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技術(shù)文章

Technical articles

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  • 202212-9
    高精度輪廓儀讓方鋼的缺陷無可遁藏

    高精度輪廓儀能描繪工件表面波度與粗糙度,并給出其數(shù)值的儀器,采用精密氣浮導(dǎo)軌為直線基準(zhǔn)。輪廓測(cè)試儀是對(duì)物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器,作為精密測(cè)量?jī)x器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛。輪廓儀是一種兩坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器,儀器傳感器相對(duì)被測(cè)工件表而作勻速滑行,傳感器的觸針感受到被測(cè)表而的幾何變化,在X和Z方向分別采樣,并轉(zhuǎn)換成電信號(hào),該電信號(hào)經(jīng)放大和處理,再轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)儲(chǔ)存在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中,計(jì)算機(jī)對(duì)原始表而輪廓進(jìn)行數(shù)字濾波,分離掉表而粗糙度成分后再進(jìn)行計(jì)算...

  • 202211-8
    了解一下三維光學(xué)輪廓儀的原理及功能吧

    三維光學(xué)輪廓儀檢測(cè)設(shè)備主要對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。三維光學(xué)輪廓儀檢測(cè)設(shè)備是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,主要對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。下面讓我們一...

  • 202210-21
    關(guān)于納米壓痕儀的主要功能你知道么

    納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試,測(cè)試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計(jì)算得出,無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。下面讓我們一起來了解一下微納米壓痕儀的主要功能吧:1.連續(xù)剛度測(cè)量(CSM)CSM技術(shù)包括在壓痕過程中測(cè)量力學(xué)性能隨深度、力、時(shí)間或頻率變化的函數(shù)。該方案采用恒定應(yīng)變速率試驗(yàn),測(cè)量硬度和模量作為深度或載荷的函數(shù),是學(xué)術(shù)界和工業(yè)界常用的試驗(yàn)方法。CSM還用于其他高級(jí)測(cè)試,包括用于存儲(chǔ)和損耗模量測(cè)量的ProbeDMA™方法和AccuFilm&t...

  • 20229-8
    原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力來分類

    高精度原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式,非接觸模式和敲擊模式。1、接觸模式從概念上來理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣,AFM在整個(gè)掃描成像過程之中,探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸,而相互作用力是排斥力。掃描時(shí),懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結(jié)構(gòu),因此力的大小范圍在10-10~10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力,便不宜選用接觸模式對(duì)樣品表面進(jìn)行成像。2、非接觸模...

  • 20228-5
    想知道什么是高精度原子力顯微鏡那不妨看看本篇

    高精度原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運(yùn)動(dòng)檢測(cè)裝置、監(jiān)控其運(yùn)動(dòng)的反饋回路、使樣品進(jìn)行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計(jì)算機(jī)控制的圖像采集、顯示及處理系統(tǒng)組成。微懸臂運(yùn)動(dòng)可用如隧道電流檢測(cè)等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法、干涉法等光學(xué)方法檢測(cè),當(dāng)針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時(shí),檢測(cè)該斥力可獲得表面原子級(jí)分辨圖像,一般情況下分辨率也在納米級(jí)水平。AFM測(cè)量對(duì)樣品無特殊要求,不需要對(duì)樣品進(jìn)行特殊處理,僅在大氣環(huán)境下就...

  • 20227-7
    保證最終元器件的性能指標(biāo)是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一

    光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用,對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度,從而用于優(yōu)化加工方法,保證最終元器件的性能指標(biāo),是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問題之一。光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度,這些參數(shù)會(huì)影響其對(duì)光信號(hào)的傳播,進(jìn)而影響最終器件的性能。此外,各種新型光學(xué)元件也需要檢測(cè)其表面輪廓,比如非球面,衍射光學(xué)元件,微透鏡陣列等。除了最終光學(xué)元件的加工精度以外,各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測(cè)中間過程的三維形貌以保證最終產(chǎn)品的精度,包括注塑、...

  • 20226-28
    在使用臺(tái)式納米壓痕儀進(jìn)行測(cè)試時(shí)可能會(huì)遇到的問題

    臺(tái)式納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試,測(cè)試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計(jì)算得出,無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。劃痕法通過使用不同的傳感器(聲發(fā)射、劃痕位移、摩擦力)和視頻顯微鏡觀察獲得臨界載荷數(shù)據(jù)來量化不同的膜-基材組合的結(jié)合性能。主要研究材料的磨損或去除機(jī)制,廣泛應(yīng)用于薄膜或涂層結(jié)合強(qiáng)度的測(cè)試。影響納米劃痕過程的主要因素包括壓頭類型、劃痕速度、劃痕深度和材料特性等.在納米壓痕測(cè)試時(shí)的常見問題如下:①納米壓痕條件設(shè)置,幾種模式的區(qū)別?納米壓痕分為靜態(tài)位移控...

  • 20226-8
    Profilm 3D光學(xué)輪廓儀簡(jiǎn)介

    Profilm3D是一款兼具垂直掃描干涉(VSI)和高精確度相移干涉(PSI)技術(shù)的經(jīng)濟(jì)型光學(xué)輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。Profilm3D光學(xué)輪廓儀具有以下優(yōu)點(diǎn):?價(jià)格優(yōu)勢(shì):市場(chǎng)上具性價(jià)比的白光干涉輪廓儀,具有價(jià)格優(yōu)勢(shì)的高精度輪廓儀。?快速測(cè)量大面積區(qū)域:測(cè)量范圍為毫米級(jí)別,配置XY樣品臺(tái)達(dá)100mm*100mm,可實(shí)現(xiàn)大面積樣品的輕松測(cè)量;?簡(jiǎn)單易用:只需將樣品放置于樣品臺(tái)上,即可直接進(jìn)行測(cè)量;?可以測(cè)量非接觸式非平坦樣品:由于光學(xué)輪廓測(cè)量法是一種非接觸式...

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