產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
美國EDAX能譜儀
EP6美國 Cascade Microtech EP6探針臺
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
主動隔振臺ARISTT
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
Zeta-20三維光學輪廓儀
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺式納米壓痕儀
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
P170全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力
Lumina光學表面缺陷分析儀
Profilm 3D經(jīng)濟三維光學輪廓儀 可測樣
ET4000日本Kosaka輪廓儀（臺階儀）
自由曲面三維面型檢測儀 自由曲面光學元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù)，開展三維輪廓分析和三維誤差比對，并生成包含多項面型誤差指標的測量報告。 從產(chǎn)品研發(fā)到生產(chǎn)過程及質(zhì)量控制，這款獨立的系統(tǒng)可用于開展光學設(shè)計、加工與檢測的前端研發(fā)設(shè)計過程、智能生產(chǎn)過程和后端質(zhì)量檢測過程。
更新時間：2024-09-24
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：82
具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導體晶圓生產(chǎn)、半導體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)
更新時間：2024-09-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：75
Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀 具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能
更新時間：2024-09-04產(chǎn)品型號：瀏覽量：221
當前位置：
