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推薦產(chǎn)品
  • Alpha-Step臺(tái)階儀
    Alpha-Step臺(tái)階儀

    Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。Alpha-Step臺(tái)階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 ...

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  • 三維光學(xué)輪廓儀
    三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測(cè)量裝置探測(cè)部分不與被測(cè)表面的直接接觸，保護(hù)了測(cè)量裝置，同時(shí)避免了與測(cè)量裝置直接接觸引入的測(cè)量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測(cè)量模式同時(shí)采集高分...

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  • 經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
    經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。我司有此機(jī)器可測(cè)樣。

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  • 光學(xué)表面缺陷分析儀
    光學(xué)表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對(duì)玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測(cè)。Lumina AT1既能夠檢測(cè)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料，又能對(duì)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測(cè)，其...

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  • TEM氮化硅薄膜窗口
    TEM氮化硅薄膜窗口

    與X射線(xiàn)用氮化硅窗口類(lèi)似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

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  • 納米壓印膠
    納米壓印膠

    公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...

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  • 全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
    全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

    P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺(tái)式系統(tǒng)的測(cè)量性能和經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機(jī)械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本，適...

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  • 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
    晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

    P-7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性?xún)r(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接...

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  • 高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
    高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）

    高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）采用*制造工藝，可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標(biāo)準(zhǔn)模板分為三類(lèi)：Quartz Molds, Silicon M...

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  • 氮化硅薄膜窗格
    氮化硅薄膜窗格

    SHNTI的X-射線(xiàn)薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟X-射線(xiàn)(如真空紫外線(xiàn))的Z大透射率。主要用于同步輻射X射線(xiàn)透射顯微成像時(shí)承載樣品。 X-射線(xiàn)越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀...

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  • Imprint Nano納米壓印
    Imprint Nano納米壓印

    納米壓印的技術(shù)與工藝特點(diǎn)，*性地設(shè)計(jì)和制備工作于低真空環(huán)境下，結(jié)合正負(fù)壓可控調(diào)節(jié)并利用壓縮空氣作為壓印驅(qū)動(dòng)力的，通過(guò)壓力傳導(dǎo)裝置、緩沖與勻壓、壓力調(diào)節(jié)控制裝置等手段實(shí)現(xiàn)平穩(wěn)可靠可控的壓印過(guò)程，借助于多...

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  • 俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
    俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力

    俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過(guò)幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測(cè)區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。

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產(chǎn)品展示
  • 原位拉伸臺(tái)
    原位拉伸臺(tái)

    為了滿(mǎn)足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開(kāi)發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀(guān)測(cè)系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)...

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  • Alpha-Step臺(tái)階儀
    Alpha-Step臺(tái)階儀

    Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。Alpha-Step臺(tái)階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 ...

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  • 三維光學(xué)輪廓儀
    三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測(cè)量裝置探測(cè)部分不與被測(cè)表面的直接接觸，保護(hù)了測(cè)量裝置，同時(shí)避免了與測(cè)量裝置直接接觸引入的測(cè)量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測(cè)量模式同時(shí)采集高分...

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  • 經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
    經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。我司有此機(jī)器可測(cè)樣。

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  • 高精度臺(tái)式納米壓痕儀
    高精度臺(tái)式納米壓痕儀

    iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶(hù)友好的納米機(jī)械測(cè)量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確，可重復(fù)的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試。iNano具有很...

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  • 光學(xué)表面缺陷分析儀
    光學(xué)表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對(duì)玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測(cè)。Lumina AT1既能夠檢測(cè)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料，又能對(duì)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測(cè)，其...

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  • 方阻測(cè)試儀
    方阻測(cè)試儀

    Filmetrics R50 是KLA電阻測(cè)試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測(cè)試儀是KLA超45年電阻測(cè)量技術(shù)地位之作。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...

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  • 高精度原子力顯微鏡
    高精度原子力顯微鏡

    高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來(lái)納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴(lài)、使用和擁有。 在SmartScanAuto有的智能模式下，系統(tǒng)自動(dòng)執(zhí)行所有必要的成像操作，同時(shí)智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描...

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  • 原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
    原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

    Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確，靈活，使用方便的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試儀器。 G200 測(cè)量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個(gè)數(shù)量級(jí)的形變測(cè)量。 可測(cè)量聚合...

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  • 表面等離子共振顯微鏡
    表面等離子共振顯微鏡

    SPRm200 表面等離子共振顯微鏡 工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是世界上1st臺(tái)將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測(cè)儀。

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  • TEM氮化硅薄膜窗口
    TEM氮化硅薄膜窗口

    與X射線(xiàn)用氮化硅窗口類(lèi)似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

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  • 納米壓印膠
    納米壓印膠

    公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...

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  • 三維測(cè)量輪廓儀
    三維測(cè)量輪廓儀

    從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進(jìn)行表面微觀(guān)測(cè)量分析和粗糙度質(zhì)量評(píng)價(jià)。白光干涉原理。

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  • 內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀
    內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀

    Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測(cè)量及缺陷篩查等檢測(cè)功能

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  • 高光譜顯微系統(tǒng)
    高光譜顯微系統(tǒng)

    高級(jí)研究型高光譜顯微系統(tǒng)結(jié)合了高光譜技術(shù)和顯微鏡技術(shù)，能夠在不同波長(zhǎng)范圍內(nèi)獲取高分辨率的光譜信息與生物樣品形態(tài)圖，實(shí)現(xiàn)在一張圖中同時(shí)獲取光譜和圖像信息。該系統(tǒng)還運(yùn)用AI技術(shù)實(shí)現(xiàn)虛擬染色，大幅度提高病理...

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  • 陣列式壓力傳感系統(tǒng)
    陣列式壓力傳感系統(tǒng)

    陣列式壓力傳感系統(tǒng)通過(guò)由前端柔性陣列式微機(jī)電壓力感測(cè)器及后端軟件界面組成，前端傳感器依所承受壓力呈現(xiàn)線(xiàn)性反應(yīng)變化，壓力越大則電導(dǎo)越高，再由后端軟件將接觸面壓力分布實(shí)時(shí)呈現(xiàn)并記錄，協(xié)助設(shè)備進(jìn)行有效調(diào)整校...

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  • 碳化硅SiC長(zhǎng)晶設(shè)備
    碳化硅SiC長(zhǎng)晶設(shè)備

    碳化硅SiC長(zhǎng)晶設(shè)備是實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量SiC晶體生長(zhǎng)、高純度原料合成、高溫晶體熱處理的專(zhuān)業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于SiC晶體生長(zhǎng)、原料合成、晶體熱處理領(lǐng)域?？梢陨L(zhǎng)6/8英寸的晶錠。

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  • MPCVD金剛石長(zhǎng)晶設(shè)備
    MPCVD金剛石長(zhǎng)晶設(shè)備

    MPCVD金剛石長(zhǎng)晶設(shè)備Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金剛石晶體生長(zhǎng)系統(tǒng)，是實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量金剛石晶體生長(zhǎng)、高純度晶體薄膜沉積、高溫晶體熱處理的...

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  • Desk V 鍍膜機(jī)
    Desk V 鍍膜機(jī)

    Desk V 鍍膜機(jī)使用一個(gè)2英寸的陰極進(jìn)行濺射，由一個(gè)最大輸出為100毫安的直流電源驅(qū)動(dòng)。使用傾斜/旋轉(zhuǎn)臺(tái)來(lái)實(shí)現(xiàn)好的樣品覆蓋，特別是在粗糙的表面。Desk V還可以在沉積前用蝕刻臺(tái)和快門(mén)對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)...

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  • 全自動(dòng)步進(jìn)重復(fù)式激光干涉光刻機(jī)
    全自動(dòng)步進(jìn)重復(fù)式激光干涉光刻機(jī)

    全自動(dòng)步進(jìn)重復(fù)式激光干涉光刻機(jī)VIL 1000納米光刻系統(tǒng)具有全自動(dòng)光路重構(gòu)、動(dòng)態(tài)鎖相、高精度步進(jìn)重復(fù)曝光等強(qiáng)大功 能。在放置旋涂好光刻膠的 晶圓后，無(wú)需任何手動(dòng)設(shè)置或調(diào)整，我們的自動(dòng)化系統(tǒng)可以在2 ...

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上海納騰儀器有限公司
上海納騰儀器有限公司是從事掃描探針顯微鏡(SPM)銷(xiāo)售的專(zhuān)業(yè)公司。公司作為俄羅斯NT-MDT在中國(guó)大陸及港、澳地區(qū)的經(jīng)銷(xiāo)商(RESELLER)，在掃描探針顯微鏡(SPM)領(lǐng)域有多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，擁有一支成熟的銷(xiāo)售、技術(shù)團(tuán)隊(duì)，迄今已累計(jì)銷(xiāo)售超過(guò)100臺(tái)(套)儀器。
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技術(shù)文章
  • 在材料科學(xué)日益精細(xì)化的今天，納米壓痕儀作為一種高精度的測(cè)試儀器，正逐步成為科研工作者的得力助手。它不僅在微納米尺度下對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量，還較大地推動(dòng)了材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、微電子等多個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展。本文將圍繞設(shè)備的應(yīng)用范圍、技術(shù)挑戰(zhàn)及未來(lái)展望展開(kāi)論述。一、應(yīng)用范圍廣泛，覆蓋多領(lǐng)域納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量，其應(yīng)用范圍較為廣泛。在材料科學(xué)領(lǐng)域，它可以用于評(píng)估PVD、CVD、PECVD等薄膜材料的力學(xué)性能，包括彈性功、塑性功、斷裂韌性等關(guān)鍵參數(shù)。...
    2024-8-26
  • 在微觀(guān)世界的探索中，電子顯微鏡(EM)以其高分辨率和強(qiáng)大的穿透能力，成為我們洞察物質(zhì)奧秘的“慧眼”。而在這其中，電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)以其功能，為我們提供了一個(gè)在高溫高壓環(huán)境下觀(guān)察材料結(jié)構(gòu)和性質(zhì)變化的平臺(tái)。本文將深入探討原理、結(jié)構(gòu)以及其在科研領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用。一、原理與結(jié)構(gòu)電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)是一種集加熱、控制和觀(guān)察于一體的綜合性實(shí)驗(yàn)裝置。它主要由加熱裝置、壓力控制系統(tǒng)和電鏡觀(guān)察系統(tǒng)三大部分組成。加熱裝置是實(shí)現(xiàn)高溫環(huán)境的關(guān)鍵部件，通常采用電阻加熱方式，通過(guò)加熱絲或加熱片提供熱源...
    2024-7-26
  • 在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)與科學(xué)研究的廣闊領(lǐng)域中，對(duì)于物體表面形貌的測(cè)量一直是一個(gè)重要的技術(shù)需求。隨著科技的不斷發(fā)展，三維光學(xué)輪廓儀作為一種高精度、非接觸式的測(cè)量工具，正逐漸嶄露頭角，成為行業(yè)內(nèi)的璀璨新星。三維光學(xué)輪廓儀是一種利用光學(xué)原理對(duì)物體表面進(jìn)行三維形貌測(cè)量的設(shè)備。其工作原理主要基于光學(xué)干涉、散射或相位移動(dòng)等物理現(xiàn)象，通過(guò)對(duì)光與物體表面的相互作用進(jìn)行精密分析，從而獲取物體表面的三維輪廓信息。相較于傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量方法，具有測(cè)量速度快、精度高、非接觸無(wú)損傷等顯著優(yōu)勢(shì)，因此在諸多領(lǐng)域得...
    2024-6-24
  • 高精度原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope，AFM)是一種使用原子力來(lái)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)物體表面形貌和物理性質(zhì)表征的先進(jìn)儀器。它在納米科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域中扮演著至關(guān)重要的角色。高精度原子力顯微鏡的原理基于掃描探針和物體表面之間的相互作用。它使用了一根非常細(xì)的金屬探針，通過(guò)控制探針對(duì)樣品表面的接觸力來(lái)感測(cè)樣品表面的形貌和性質(zhì)。探針在樣品表面掃描時(shí)，探針的運(yùn)動(dòng)受到樣品表面的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和力場(chǎng)的影響，這些信息被轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，最終形成二維或三維的樣品表面形貌圖像。與傳統(tǒng)顯微鏡...
    2024-1-12
  • 高精度輪廓儀是一種用于測(cè)量物體輪廓的精密儀器。它可以用于工業(yè)生產(chǎn)、制造、質(zhì)量控制等領(lǐng)域，能夠提供對(duì)物體輪廓的準(zhǔn)確測(cè)量和分析數(shù)據(jù)。下面將介紹高精度輪廓儀的使用方法。首先，打開(kāi)高精度輪廓儀的電源并等待儀器啟動(dòng)。儀器會(huì)進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)和參數(shù)設(shè)置，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。接下來(lái)，將待測(cè)物體放置在輪廓儀的測(cè)量臺(tái)上。要保證物體固定穩(wěn)定，以免在測(cè)量過(guò)程中產(chǎn)生誤差。根據(jù)需要，可以使用夾具或者其他支撐工具來(lái)固定物體。然后，通過(guò)調(diào)整儀器的參數(shù)和設(shè)置，選擇合適的測(cè)量模式。高精度輪廓儀通常具有多種測(cè)量模式...
    2023-12-12
  • 高精度輪廓儀是一種用于測(cè)量和繪制物體輪廓的裝置，它能夠以高精度和高速度獲取物體的外形信息。這種儀器常用于工程設(shè)計(jì)、制造、品質(zhì)控制和科學(xué)研究等領(lǐng)域。高精度輪廓儀通常由一個(gè)激光測(cè)距儀和一個(gè)移動(dòng)平臺(tái)組成。激光測(cè)距儀通過(guò)發(fā)射激光束并接收返回的激光信號(hào)，可以精確地測(cè)量物體的距離。移動(dòng)平臺(tái)則用于控制激光測(cè)距儀在水平和垂直方向上的移動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)物體輪廓的全面掃描。在測(cè)量過(guò)程中，高精度輪廓儀會(huì)將物體的輪廓點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集下來(lái)，并通過(guò)特定的算法進(jìn)行處理和分析。這些算法可以將點(diǎn)云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為三維模型...
    2023-11-10
  • 圓探針式臺(tái)階儀是一種用于測(cè)量臺(tái)階高度和曲率的儀器。它的原理是利用一個(gè)圓形探針在臺(tái)階表面上運(yùn)動(dòng)，并通過(guò)測(cè)量探針的垂直位移來(lái)計(jì)算出臺(tái)階的高度和曲率。圓探針式臺(tái)階儀在土木工程、建筑設(shè)計(jì)和地形測(cè)量等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。圓探針式臺(tái)階儀由一個(gè)探針和一個(gè)傳感器組成。探針是一個(gè)圓形的剛性圓柱體，其底部連接到一個(gè)測(cè)量裝置上。傳感器安裝在儀器的固定部分上，用來(lái)測(cè)量探針的垂直位移。在實(shí)際測(cè)量中，儀器被放置在需要測(cè)量的臺(tái)階表面上。通過(guò)手柄控制探針的運(yùn)動(dòng)，使其在臺(tái)階表面上移動(dòng)。同時(shí)，傳感器會(huì)測(cè)量探針的...
    2023-10-16
  • 晶圓探針式輪廓儀(WaferProber)是一種用于測(cè)試和測(cè)量半導(dǎo)體晶圓上器件輪廓和尺寸的儀器。該儀器通常由機(jī)械平臺(tái)、探針卡盤(pán)、探測(cè)控制系統(tǒng)等部分組成。晶圓探針式輪廓儀的工作原理是通過(guò)將晶圓置于機(jī)械平臺(tái)上，利用探針卡盤(pán)上的探針觸點(diǎn)對(duì)晶圓進(jìn)行探測(cè)和測(cè)量。探針觸點(diǎn)通過(guò)機(jī)械運(yùn)動(dòng)精確地接觸晶圓表面，并測(cè)量其表面的高度和形狀變化。通過(guò)控制探針卡盤(pán)的移動(dòng)，該儀器可以對(duì)晶圓表面的多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行連續(xù)的測(cè)量，從而還原出器件在晶圓上的輪廓和尺寸信息。晶圓探針式輪廓儀的主要應(yīng)用領(lǐng)域是半導(dǎo)體工業(yè)中的研發(fā)...
    2023-9-7
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